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稳压二极管高重复峰值反向电压(耐压)及大反向电流这两个技术参数有一定的关联，放在一起说。电源中整流桥的损坏常常是耐压问题，如何通过检验对二极管的耐压品质作出判断呢?这是提高产品可靠性的关键。二极管的反向特性曲线必须是硬特性，软特性的二极管反向漏电流必然大，这种情况造成的损坏表现是PCB板变色，烧焦。检验反向耐压的一致性。如果抽检一批二极管，虽然全部达到要求，肖特基二极管极性，耐压值的离散性大于20%，厦门肖特基二极管，在长期使用时就可能有问题。二极管比较普遍的功能就是只允许电流由单一方向通过，反向时阻断 。深圳可控硅管
TVS(TransientVoltageSuppressor)或称瞬态***二极管，是在稳压管工艺基础上发展起来的一种新产品，其电路符号和普通稳压二极管相同，外形也与普通二极管无异，当TVS管两端经受瞬间的高能量冲击时，它能以极高的速度(高达1/(10^12)秒)使其阻抗骤然降低，三明tvs二极管，同时吸收一个大电流，tvs二极管作用，将其两端间的电压箝位在一个预定的数值上，从而确保后面的电路元件免受瞬态高能量的冲击而损坏。如果是使用的话，tvs二极管供应商，TVS有二极管类，和压敏电阻类。我个人认为压敏电阻类更有优势，***用于手机，LCD模组，及一些比较精密的手持设备。特别是出口欧洲的产品一般都要加，来作为静电防护的主要手段之一。深圳可控硅管故障特点：稳压二极管的故障主要表现在开路、短路和稳压值不稳定。
一、半导体二极管1、英文缩写：D(Diode)，电路符号是2、半导体二极管的分类分类：a按材质分：硅二极管和锗二极管；b按用途分：整流二极管，检波二极管，稳压二极管，发光二极管，光电二极管，变容二极管。3、半导体二极管在电路中常用“D”加数字表示，如：D5表示编号为5的半导体二极管。4、半导体二极管的导通电压是:a;硅二极管在两极加上电压,并且电压大于0.6V时才能导通,导通后电压保持在0.6-0.8V之间.B;锗二极管在两极加上电压,并且电压大于0.2V时才能导通,导通后电压保持在0.2-0.3V之间.5、半导体二极管主要特性是单向导电性，也就是在正向电压的作用下，导通电阻很小；而在反向电压作用下导通电阻极大或无穷大。6、半导体二极管可分为整流、检波、发光、光电、变容等作用。7、半导体二极管的识别方法：
S8050是一款NPN小功率三极管，数据手册上给出的Vceo大约为25V，Vcbo为40V，而Vebo只有6V。下面是测量一个实际S8050三级的Vceo,Vcbo的反向击穿电压电流曲线：S8050Vceo:大约45VS8050Vcbo:大约115V可以看出Vcbo比Vceo大了将近三倍。如果但但从三极管的符号上来看，这个结果的确非常令人难以理解。因为Vcbo是测量集电极到基极之间的PN节反向击穿电压；Vceo看似是在C、B之间增加了一个B、E的正向导通的PN节，为何Vceo反而比Vcbo小了那么多呢？具体原因就不再这儿展开讨论了。如果你感兴趣可以参见相关资料来进行分析。通常情况下，三极管都是工作了电路中，不会有任何一个电极是悬空的。此时，三极管的耐压就和手册给定的击穿电压不同。下面是在B、E之间连接一个偏置电阻，重新测量C、E之间的击穿电压。稳压二极管的电流低时，无法起到正常的稳压作用，过高会出现长久击穿。
MOS管MOS管是电压控制型器件，栅极（G）的电压控制源极（S）和漏极（D）之间的电流。下面以NMOS为例图示如下。NMOS管的原理图示如下它们好像是一个受外界磁力控制的开关，当外面有红色磁体时，好像栅极（G）加压，内部的黄色阀门就开启，绿色的电子好像水流一样就会从源极（S）流到漏极（D）。刚开始水流随着阀门的开启增大而增大，这就是线性工作区。当阀门开到一定程度，水流不会再增大了，因为管子满了。这就是饱和区工作状态。电子元件当中，一种具有两个电极的装置，只允许电流由单一方向流过，许多的使用是应用其整流的功能。深圳可控硅管
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其他光敏二极管的检测1．电阻测量法用黑纸或黑布遮住光敏二极管的光信号接收窗口，然后用万用表R×1k档测量光敏二极管的正、反向电阻值。正常时，正向电阻值在10~20kΩ之间，反向电阻值为∞（无穷大）。若测得正、反向电阻值均很小或均为无穷大，则是该光敏二极管漏电或开路损坏。再去掉黑纸或黑布，使光敏二极管的光信号接收窗口对准光源，然后观察其正、反向电阻值的变化。正常时，正、反向电阻值均应变小，阻值变化越大，说明该光敏二极管的灵敏度越高。2．电压测量法将万用表置于1V直流电压档，黑表笔接光敏二极管的负极，红表笔接光敏二极管的正极、将光敏二极管的光信号接收窗口对准光源。正常时应有电压（其电压与光照强度成正比）。3．电流测量法将万用表置于50μA或500μA电流档，红表笔接正极，黑表笔接负极，正常的光敏二极管在白炽灯光下，随着光照强度的增加，其电流从几微安增大至几百微安深圳可控硅管
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